Maroto, Díaz y Feijóo participarán en el foro de Anfac sobre la transformación del sector del automóvil

MADRID, 8 Feb. (EUROPA PRESS) -

La Asociación Española de Fabricantes de Automóviles y Camiones (Anfac) celebrará el próximo 21 de febrero la tercera edición de su foro 'La movilidad de tod@s', un encuentro en el que se abordará la transformación del sector del automóvil en España y en el que participarán la vicepresidenta segunda y ministra de Trabajo, Yolanda Díaz, la ministra de Industria, Comercio y Turismo, Reyes Maroto, y el líder del Partido Popular, Alberto Núñez Feijóo.

El acto, organizado en colaboración con Mapfre y Grant Thornton, tendrá lugar en Madrid y según Anfac llega un "momento clave" para la automoción dado que desde el sector se han solicitado al Gobierno y a la Administración medidas urgentes que permitan avanzar en la electrificación, cumplir con los objetivos de descarbonización marcados por Europa y la recuperación del mercado, "lejos todavía de las cifras prepandemia".

En el acto también participará el presidente de Seat y Cupra, así como de Anfac, Wayne Griffiths, y la apertura correrá a cargo de José María López Martínez, nombrado recientemente como comisionado especial para el Proyecto Estratégico para la Recuperación y Transformación Económica del Vehículo Eléctrico y Conectado (Perte VEC).

En la sesión matutina participarán Maroto y Feijóo, mientras que Díaz será la encargada de clausurar el encuentro. "Además de la asistencia institucional, este encuentro reunirá a los principales actores de la automoción en España, así como de otros sectores clave en el nuevo ecosistema de la movilidad del futuro como tecnología, energía, economía digital, transporte, logística o telecomunicaciones", ha añadido Anfac.

En ese sentido, los distintos ponentes participarán en tres mesas redondas en las que se abordará en qué punto se encuentra la industria automovilística en España en un contexto "fuertemente marcado por la transformación del sector, la coyuntura económica, la falta de suministros y la escasez de microchips", entre otros factores.